X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構

X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272 是一臺具有革新意義的高分辨率三維 X 射線成像系統。單次掃描可獲得多達 2000 張，每張大小為 209M（14450 x 14450 像素）的超清無損切片，用于之后高分辨三維重建。通過先進的相襯增強技術，SkyScan1272 對樣品的細節檢測能力（分辨率）高達 350 納米。

X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272的具體設備參數如下：

?設備參數

• 圖像分辨率（Pixel Size）：350nm
• 空間分辨率：4µm
• 20-100kV 新式X射線源，免維護
• 樣品尺寸：直徑達75mm，長達70mm
• 1600萬像素高分辨率CCD探測器，配備光纖面板，以確保長使用壽命和重建質量和精度
• 快速重構軟件InstaRecon，重構1K*1K切片僅需0.02S.重構容積14456*14456*2610像素：10h (1PC)  VS 19h (8GPU Cluster)
• 系統自帶軟件包括2D/3D圖像定量分析軟件和支持面渲染和體渲染的3D可視化軟件，以及手機APP
• 可選16位自動進樣器

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?隔熱陶瓷孔隙結構特征分析

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