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當(dāng)前位置:首頁(yè)新聞資訊歡迎來(lái)訪 ! 布魯克桌面式X射線衍射儀——D6 PHASER即將抵達(dá)束蘊(yùn)儀器

歡迎來(lái)訪 ! 布魯克桌面式X射線衍射儀——D6 PHASER即將抵達(dá)束蘊(yùn)儀器

更新時(shí)間:2024-09-06點(diǎn)擊次數(shù):3307

引言



布魯克作為行業(yè)先進(jìn)的科學(xué)儀器制造商,在x射線衍射儀一直處于重要地位。

2009年,布魯克發(fā)布了D2 PHASER X射線衍射儀,一經(jīng)發(fā)布便在用戶群體中引起強(qiáng)烈反響。

D6 PHASER X射線衍射儀,即D2 PHASER的升級(jí)版,在去年正式推出之時(shí),立馬受到了行業(yè)內(nèi)外人員的高度關(guān)注。

其作為一款臺(tái)式X射線衍射儀,不僅大大拓展了衍射儀除粉末衍射以外的分析潛能,還補(bǔ)充了傳統(tǒng)臺(tái)式衍射儀與落地式衍射儀之間的功能性差距。

經(jīng)過(guò)不懈努力,布魯克D6這臺(tái)設(shè)備實(shí)機(jī)將于下周一抵達(dá)束蘊(yùn)儀器,將安裝在公司旗下倫琴實(shí)驗(yàn)室內(nèi),并在倫琴“駐扎"一段時(shí)間。

歡迎各位客戶來(lái)訪參觀討論、學(xué)習(xí)交流!

束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司,位于上海市G60科創(chuàng)云廊。束蘊(yùn)儀器憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等國(guó)際有名實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界有名儀器供應(yīng)商。成交的客戶數(shù)量超過(guò)500個(gè),銷售額1億+。

倫琴實(shí)驗(yàn)室則是束蘊(yùn)旗下的第三方實(shí)驗(yàn)室,是國(guó)內(nèi)一家專業(yè)從事X射線相關(guān)分析與開(kāi)發(fā)的機(jī)構(gòu)。倫琴實(shí)驗(yàn)室致力于更深入的X射線應(yīng)用和輸出專業(yè)性更強(qiáng)的解決方案。

針對(duì)各類材料完成從晶體結(jié)構(gòu)到電子結(jié)構(gòu)的全面解析,以及從埃到毫米的跨尺度表征。

儀器介紹


顯而易見(jiàn),X射線衍射儀是材料學(xué)相關(guān)領(lǐng)域基礎(chǔ)且不能缺少的分析手段,具備無(wú)損、樣品制備簡(jiǎn)單等優(yōu)勢(shì)。X射線衍射儀一般主要由X射線光源部分、測(cè)角儀、樣品臺(tái)、光路系統(tǒng)、探測(cè)器五大部分組成。

Bruker在已有的D2 Phaser的基礎(chǔ)上,結(jié)合具備優(yōu)異性能的LYNXEYE系列能量色散陣列探測(cè)器的優(yōu)勢(shì),在桌面衍射儀這個(gè)平臺(tái)上大膽的嘗試了新的結(jié)構(gòu)和運(yùn)動(dòng)邏輯,強(qiáng)勢(shì)推出了一款跨界的桌面衍射系統(tǒng)——D6 Phaser。


產(chǎn)品亮點(diǎn)總結(jié):

Ⅰ.功率可選的X射線光源

D6 Phaser提供了兩種可選的X射線光源功率, 600W/1200W,測(cè)試強(qiáng)度可媲美大型落地式機(jī)型,滿足不同應(yīng)用需求。

Ⅱ.高精度的測(cè)角儀

D6 Phaser保證在剛玉標(biāo)樣全譜范圍內(nèi)(20-140°),任何一個(gè)衍射峰的測(cè)量誤差不超過(guò)±0.01°,與大型落地式機(jī)型旗鼓相當(dāng)。

Ⅲ.多功能平臺(tái)拓展

D6 Phaser同時(shí)還可以實(shí)現(xiàn)以前只有在大型落地式機(jī)型上的多功能測(cè)試,如:

◇  薄膜掠入射測(cè)試(GID)

◇  薄膜反射率測(cè)試(XRR)殘余應(yīng)力測(cè)試

◇  織構(gòu)測(cè)試

◇  毛細(xì)管透射測(cè)試

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)



01













從功能性的角度出發(fā),上一代桌面式衍射儀D2 PHASER由于空間大小的限制,只能完成粉末、塊體、常規(guī)薄膜等樣品的分析測(cè)試,無(wú)法實(shí)現(xiàn)更多功能的拓展;

D6 PHASER則打破了桌面式衍射儀功能上的限制,如:

①薄膜掠入射(GID)測(cè)試:利用平行光路和可以調(diào)整樣品高度的Z軸樣品臺(tái)的配合;

②應(yīng)力&織構(gòu)測(cè)試:采用點(diǎn)焦斑和具備Chi和Phi方向運(yùn)動(dòng)的樣品臺(tái)的配合;

③原位變溫測(cè)試:利用原位變溫的樣品倉(cāng)來(lái)實(shí)現(xiàn);

④毛細(xì)管透射:需毛細(xì)管樣品臺(tái)和透射光學(xué)的配合等,這些應(yīng)用的拓展將在薄膜材料、金屬材料、藥物、陶瓷材料等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)重要的功能延升,實(shí)現(xiàn)桌面式衍射儀的多功能平臺(tái)。


02













從基本配置選擇上,D6 PHASER也提供更多的適用性:

①光管功率:提供了三種選擇,用戶可根據(jù)應(yīng)用來(lái)選擇更適用的匹配;

②自動(dòng)進(jìn)樣裝置:D6 PHASER提供的12位的自動(dòng)進(jìn)樣裝置供用戶選擇,很大程度上節(jié)省了人工成本;

③水冷的選擇:D6 PHASER除了自身的內(nèi)部水冷以外,用戶亦可選擇外接等等,更加追求并支持不同用戶不同需求的定制化方案。


03













此外,D6 PHASER也是秉承了布魯克的傳統(tǒng)優(yōu)勢(shì)。

θ/θ掃描方式的高精度測(cè)角儀,給您準(zhǔn)確的角度位置,為您的物相定性打下基礎(chǔ);同樣可搭載LYNXEYE全系的能量色散陣列探測(cè)器,相比傳統(tǒng)的陣列探測(cè)器多了能量分辨的功能,很大程度上免除了噪音和背景對(duì)數(shù)據(jù)的干擾,提升了信噪比和峰背比,為您的全譜擬合、結(jié)構(gòu)精修、無(wú)標(biāo)定量等保駕護(hù)航。

應(yīng)用實(shí)例


D6 PHASER二維衍射實(shí)現(xiàn)方法D6 PHASER提供了反射幾何下的兩種二維衍射實(shí)現(xiàn)方法,Bragg-2D和Phi-1D掃描方法:

Bragg-2D方法中不需要移動(dòng)樣品,相反地,通過(guò)選擇較大的入射光路發(fā)散度,將樣品大面積暴露在X射線束下,并在Δ? vs. 2Theta空間中可視化展現(xiàn)來(lái)自不同晶粒的衍射信號(hào)。

Phi-1D方法則需要使用旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái),使用較窄的X射線束照射樣品,探測(cè)器定位在特定的2Theta峰位置,通過(guò)旋轉(zhuǎn)樣品同時(shí)連續(xù)探測(cè)器快照拍攝來(lái)對(duì)晶粒進(jìn)行成像。相應(yīng)的X射線衍射儀樣品臺(tái)配置如圖1所示。

圖1. D6 PHASER固定樣品臺(tái)(左)用于Bragg2D衍射,旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)(右)用于Bragg2D和Phi-1D二維衍射


例一













圖2顯示了粗晶粒粉末樣品的二維衍射圖,包含大量的不連續(xù)斑點(diǎn)。在常規(guī)的一維粉末衍射測(cè)量中,衍射信號(hào)將沿著衍射線進(jìn)行積分,用戶不會(huì)意識(shí)到樣品粒度是不均勻的。而現(xiàn)在得益于快速的二維衍射測(cè)量,用戶認(rèn)識(shí)到在進(jìn)行定量的一維XRD測(cè)量之前,樣品應(yīng)該被更細(xì)的粉碎。

圖2. DIFFRAC.COMMANDER界面展示粗糖樣品的Phi-1D掃描

圖像的水平軸對(duì)應(yīng)于Phi旋轉(zhuǎn),而垂直軸顯示探測(cè)器快照。數(shù)據(jù)采集使用D6 PHASER 600W, Co靶,K-beta濾波器,2.5°Soller準(zhǔn)直器,可變發(fā)散狹縫(恒定開(kāi)口,0.25 mm),無(wú)空氣散射屏。使用LYNXEYE-2探測(cè)器進(jìn)行連續(xù)phi掃描,步長(zhǎng)0.9度,曝光時(shí)間1秒,總掃描時(shí)間401秒,探測(cè)器達(dá)到 2Theta開(kāi)口4.97°。


例二













第二個(gè)例子(圖3)展示了小晶粒的優(yōu)先取向情況。垂直線顯示了較寬的強(qiáng)度調(diào)制,然而對(duì)于隨機(jī)取向的材料來(lái)說(shuō),強(qiáng)度應(yīng)該是恒定的。此外,衍射信號(hào)具有不同的寬度,表明存在微觀應(yīng)變。對(duì)于該測(cè)試鋁箔,只有通過(guò)樣品的不同取向測(cè)試才能獲得更好的平均信號(hào)。相對(duì)應(yīng)地,在測(cè)量粉末樣品時(shí),在樣品制備過(guò)程中應(yīng)盡量重新定向晶體使其更加取向隨機(jī),或者用較小的接觸壓力將粉末壓實(shí)。

圖3. DIFFRAC.EVA軟件二維展示使用Co特征X射線測(cè)量的軋制鋁板樣品的Phi-1D掃描圖譜

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