弗萊貝格PIDcon bifacial｜雙面電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案

論文來源：K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

部分摘要：

      雙面 PERC 電池背面PID會導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面 PERC 太陽能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的 PID 測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中加入恢復(fù)步驟來將可逆 PID-p 與不可逆 PID-c 造成損傷的區(qū)分開來。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的貢獻(xiàn)敏感地依賴于所研究的太陽能電池。因此，在雙面 PERC 電池的 PID 測試方案中需包括 PID 高壓期間的附加光照和恢復(fù)步驟。

相對于每個單獨模塊的初始狀態(tài)，背面Isc 值的變化情況

       比較 1 個太陽和0.1 個太陽的 I–V 測量，可以觀察到，這兩種方法之間有很強的數(shù)量相關(guān)性。觀察到的參數(shù)變化與用于 I–V 測量的光照強度無關(guān)。

      采用 0.1 太陽光源的測試裝置可同樣適用于 PID 階段和表征階段。A （優(yōu)化電池）模塊和 S（標(biāo)準(zhǔn)電池） 模塊之間的另一個明顯區(qū)別是恢復(fù)行為。對于 A 模塊，Isc 值在恢復(fù)步驟中幾乎恢復(fù)（上圖右中的黑色和紅色條）。這意味著，所觀察到的 A 模塊背面的衰退大部分是可逆的，因此與PID-p 有關(guān)。與此相反，S 模塊在恢復(fù)階段只顯示很小的 Isc 參數(shù)的變化。因此，在這種情況下，PID 幾乎是不可逆的，與 PID-c 有關(guān)。

      綜上所述，電位誘導(dǎo)衰退（PID）對雙面太陽能電池的背面有很大的影響。有兩種不同的PID 機(jī)制， 可逆極化相關(guān) PID-p 和不可逆腐蝕相關(guān) PID-c。一個PID測試與4小時總測試時間適合于評估微型模塊的背面PID靈敏度以及區(qū)分可逆PID- p 和不可逆 PID-c。

      PID 測試流程需要滿足兩個條件：首先，測試過程同時需要實施光照，以防止 PID 結(jié)果的過高或過低估計。第二，需要一個恢復(fù)步驟來區(qū)分 PID-c 和 PID-p。雖然 PID-p 敏感單元可以通過在光伏電站施加反向電壓來恢復(fù)，對 PID-c 敏感的太陽能電池將遭受永遠(yuǎn)不可逆的功率損失。因此，我們需要一種能夠測試雙面電池PID的相應(yīng)設(shè)備，結(jié)合所需的高壓測試條件和原位 PID 的跟蹤技術(shù)，滿足以上各種實驗條件的需求。

更多文獻(xiàn)信息，請查閱：

K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

https://www.sciencedirect。。ｃｏｍ/science/article/abs/pii/S0927024820303548?via=ihub

弗萊貝格儀器與德國Fraunhofer CSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導(dǎo)衰退控制的測量解決方案（PIDcon bifacial）。

臺式雙面電池PID測試儀：

●   根據(jù)IEC 62804-TS標(biāo)準(zhǔn)方法
●   易于使用的臺式設(shè)備
●   夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
●   無需氣候室
●   不需要電池層壓
●   測量速度：4小時(一般)
●   可測量參數(shù)：分流電阻、功率損失、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
●   太陽能電池可以通過EL等進(jìn)行研究
●   基于IP的系統(tǒng)支持在世界任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持